TI/IDCTS型对探测器的通用性能测试系统

产品介绍

TI/IDCTS型对探测器的通用性能测试系统是对红外探测器进行定量化测试的系统，适用于探测器的功能验证、指标测试及长周期寿命试验；本系统具有信噪比达100dB的高动态范围数据采集能力，还具有智能化的特点，程序可按模式自动执行测试项，并给出测试结果，利用智能手机进行远程遥控遥测。

产品特点

• 系统的主要测试功能：固定图案噪声和瞬时噪声、响应率和探测率、动态范围/线性度、NETD、非均匀性校正、坏像元定位、光谱响应、串音/MTF；
• 主控制器采用了高等级FPGA 芯片，设置了硬件看门狗电路，并进行了冗余设计，软件进行了全覆盖测试，从而保证了系统运行时的稳定性和可靠性；
• 电路板采用OPENVPX架构进行设计，数字模拟混合电路进行了电磁兼容性设计，降低了系统噪声，从而实现大动态范围的数据采集；
• 对外接口可适应多种探测器测试分析，可对其接口形式、信号数量、电平值、阻抗等进行匹配，电缆线可根据客户需求进行制作；
• 具有对红外探测器提供电源、偏置电压和驱动信号的能力，电源、偏置电压可调节，驱动信号方便编程；
• 上位机兼容性好，在其界面中可发送指令控制系统的各项参数，硬件兼容RS232、RS422电平；
• 上位机采集软件具有图像实时解帧、显示、及存储功能，存储格式可选，并且具有图像处理及数据分析功能；
• 具有温度测量功能，兼容测温二极管、铂电阻、热敏电阻等传感器，满足不同温度范围的测试，并兼容2线、3线制、4线制传感器，电缆线可根据客户需求进行制作；
• 系统具有工作状态远程遥测、遥控及报警功能，可长期开机连续工作；电路箱内含有GSM模块，并配备SIM卡，客户仅需要一部可正常收发短信的手机。

应用领域

• 焦平面研发
• 焦平面测试
• 成像系统测试

技术参数